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超光滑表面X射线散射特性研究

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超光滑表面X射线散射特性研究
论文目录
 
摘要第1-7页
Abstract第7-9页
目录第9-13页
第1章 绪论第13-33页
  · 引言第13页
  · 太阳活动与 X 射线波段辐射第13-14页
  · 掠入射 X 射线望远镜第14-21页
    · X 射线在物质表面传输特性第14-15页
    · 掠入射 X 射线望远镜基本结构第15-17页
    · 掠入射 X 射线望远镜的发展第17-21页
  · 我国掠入射 X 射线望远镜的研究现状及镜面材料的选择第21页
  · 常用的薄膜制备方法第21-24页
    · 蒸发镀膜第22页
    · 溅射镀膜技术第22-23页
    · 脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,PLD)第23页
    · 原子层沉积(Atomic layer deposition,ALD)第23-24页
  · 表面粗糙度测量方法第24-28页
    · 机械探针扫描法第24-25页
    · 光学干涉测量法第25-26页
    · 原子力显微镜(Atomic force microscope,AFM)第26-28页
  · 表面散射理论第28-30页
    · 标量散射理论第28-29页
    · 矢量散射理论第29页
    · Harvey-Shack 线性系统理论第29-30页
  · 本论文课题来源、研究工作意义和主要研究内容第30-33页
    · 课题来源第30页
    · 研究工作意义第30-31页
    · 研究内容第31-33页
第2章 X 射线表面散射理论第33-45页
  · 表面模型和畸变波玻恩近似(Distorted Wave Born Approximation,DWBA)理论第34-40页
  · 一级矢量微扰理论第40-42页
  · 一级矢量微扰理论的适用性第42-43页
  · 小结第43-45页
第3章 X 射线散射实验装置、样品及其基本参数测量第45-63页
  · 散射实验测量系统第45-46页
  · 样品选择第46-48页
  · 薄膜厚度的测量第48-55页
    · 原理和方法第49-53页
    · 原子层沉积 Al_2O_3薄膜表面粗糙度和厚度的测量第53页
    · 结果和讨论第53-55页
  · 一种准确估算薄膜质量密度ρ的方法-XRR_(DEN)第55-61页
    · 临界角误差对密度的影响第56-57页
    · 用于准确估算薄膜质量密度ρ的 XRR_(DEN)法第57-58页
    · XRR_(DEN)法估算薄膜密度的实验结果和讨论第58-61页
  · 小结第61-63页
第4章 超光滑表面粗糙度测量第63-91页
  · 一级矢量微扰法的误差分析第63-72页
    · 接收狭缝宽度对 PSD 函数误差的影响第63-68页
    · 入射光束宽度对 PSD 函数误差的影响第68-71页
    · 系统校准误差的影响第71-72页
  · 用原子力显微镜测量光学表面粗糙度第72-77页
    · 原理第72-73页
    · AFM 测量及计算结果第73-77页
  · 散射实验结果及数据分析第77-89页
    · 表面散射分布第77-78页
    · 掠入射角θ_0对样品 PSD 函数的影响第78-82页
    · 不同表面粗糙度样品的 PSD 函数比较第82-83页
    · X 射线散射法与 AFM 测得的 PSD 函数的比较第83-87页
    · 薄膜密度对 PSD 函数的影响第87-89页
  · 本章小结第89-91页
第5章 超光滑表面 X 射线异常散射现象的研究第91-103页
  · 背景第91-92页
  · 异常散射测量第92页
  · 散射分布及异常散射角位置第92-97页
  · 表面粗糙度对异常散射强度的影响第97-99页
  · 异常散射峰的半高宽度(Full width at half maxium, FWHM)第99页
  · 薄膜密度与异常散射角第99-101页
  · 小结第101-103页
第6章 总结与展望第103-107页
  · 总结第103-104页
  · 论文主要创新点第104页
  · 工作展望第104-107页
参考文献第107-115页
在学期间学术成果情况第115-117页
指导教师及作者简介第117-119页
致谢第119页

本篇论文共119页,点击这进入下载页面
 
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