论文目录 | |
摘要 | 第1-4页 |
abstract | 第4-10页 |
第1章 绪论 | 第10-39页 |
1.1 电阻开关效应 | 第10-22页 |
1.1.1 电阻开关效应的简介 | 第10-11页 |
1.1.2 电阻开关效应的分类 | 第11-13页 |
1.1.3 电阻开关效应的机制 | 第13-19页 |
1.1.4 电阻开关效应的应用和前景 | 第19-22页 |
1.2 NiO薄膜的电阻开关效应 | 第22-30页 |
1.2.1 NiO薄膜单极性电阻开关效应的机制 | 第22-29页 |
1.2.2 NiO薄膜双极性电阻开关效应的机制 | 第29-30页 |
1.3 电阻开关效应中的磁效应 | 第30-35页 |
1.3.1 电阻开关效应中的电场调控磁性 | 第30-31页 |
1.3.2 电阻开关效应中的磁电阻效应 | 第31-35页 |
1.4 复阻抗技术 | 第35-37页 |
1.4.1 复阻抗技术的简介 | 第35-36页 |
1.4.2 复阻抗技术在电阻开关效应中的应用 | 第36-37页 |
1.5 选题思路与研究内容 | 第37-39页 |
第2章 实验方法 | 第39-51页 |
2.1 样品制备 | 第39-44页 |
2.1.1 脉冲激光沉积技术 | 第39-42页 |
2.1.2 磁控溅射技术 | 第42-43页 |
2.1.3 引线键合技术 | 第43-44页 |
2.2 样品表征与物性测量 | 第44-51页 |
2.2.1 台阶仪 | 第44-45页 |
2.2.2 电输运特性的测量 | 第45-46页 |
2.2.3 超导量子干涉仪 | 第46-48页 |
2.2.4 透射电子显微镜 | 第48-49页 |
2.2.5 复阻抗谱 | 第49-51页 |
第3章 电阻开关效应诱发的NiO薄膜不同阻态的磁电阻行为及机制研究 | 第51-81页 |
3.1 引言 | 第51-53页 |
3.2 NiO薄膜的制备与表征 | 第53-55页 |
3.3 低阻态NiO薄膜的磁电阻行为 | 第55-59页 |
3.3.1 NiO薄膜中Ni细丝的直接观测 | 第55-56页 |
3.3.2 低阻态下Ni细丝的各向异性磁电阻的不同行为 | 第56-58页 |
3.3.3 Ni细丝高场磁电阻的机制 | 第58-59页 |
3.4 高阻态NiO薄膜的磁电阻行为 | 第59-72页 |
3.4.1 高阻态下Ni细丝的正常和反常各向异性磁电阻 | 第59-61页 |
3.4.2 各向异性磁电阻与剩余电阻率的依赖关系及机制 | 第61-63页 |
3.4.3 各向异性磁电阻面内和面外的相对幅值 | 第63-65页 |
3.4.4 各向异性磁电阻行为随温度的变化 | 第65-66页 |
3.4.5 正常和反常各向异性磁电阻的竞争 | 第66-69页 |
3.4.6 断裂Ni细丝的隧道磁电阻 | 第69-72页 |
3.5 各向异性磁电阻的第一性原理计算 | 第72-78页 |
3.5.1 各向异性磁电阻第一性原理计算的理论基础 | 第72-73页 |
3.5.2 各向异性磁电阻第一性原理计算的计算方法 | 第73-74页 |
3.5.3 各向异性磁电阻第一性原理计算的结果与分析 | 第74-78页 |
3.6 NiO薄膜中Ni细丝演化机制 | 第78-80页 |
3.7 本章小结 | 第80-81页 |
第4章 NiO薄膜电阻开关效应中的复阻抗特性研究 | 第81-91页 |
4.1 引言 | 第81-82页 |
4.2 NiO薄膜的制备与表征 | 第82页 |
4.3 不同阻态NiO薄膜的复阻抗特性及等效电路 | 第82-85页 |
4.3.1 低阻态NiO薄膜的复阻抗特性及等效电路 | 第82-83页 |
4.3.2 高阻态NiO薄膜的复阻抗特性及等效电路 | 第83-85页 |
4.4 高阻态NiO薄膜等效电路元件的拟合计算与机制研究 | 第85-88页 |
4.4.1 高阻态NiO薄膜等效电路元件的拟合计算 | 第85-87页 |
4.4.2 多细丝逐步演化过程的研究 | 第87-88页 |
4.5 NiO薄膜的磁电容特性 | 第88-89页 |
4.6 本章小结 | 第89-91页 |
第5章 总结与展望 | 第91-93页 |
5.1 研究总结 | 第91-92页 |
5.2 展望 | 第92-93页 |
参考文献 | 第93-102页 |
致谢 | 第102-104页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第104-105页 |