条纹结构光三维测量中多频相位展开与高亮抑制方法研究 |
论文目录 | | | 摘要 | 第1-7页 | | Abstract | 第7-15页 | | 第1章 绪论 | 第15-31页 | | 1.1 研究背景及意义 | 第15-16页 | | 1.2 相位抽取与展开的研究现状 | 第16-27页 | | 1.2.1 相位抽取方法现状 | 第18-24页 | | 1.2.2 相位展开方法研究 | 第24-27页 | | 1.3 高亮抑制方法的国内外研究现状 | 第27-29页 | | 1.3.1 基于软件处理的高亮抑制方法 | 第27-28页 | | 1.3.2 基于硬件处理的高亮抑制方法 | 第28-29页 | | 1.4 主要研究内容 | 第29-31页 | | 第2章 双频条纹时间相位展开方法研究 | 第31-51页 | | 2.1 引言 | 第31页 | | 2.2 单频条纹包裹相位抽取方法 | 第31-34页 | | 2.2.1 包裹相位抽取原理 | 第31-32页 | | 2.2.2 包裹相位抽取误差 | 第32-34页 | | 2.3 双频条纹时间相位展开及其误差 | 第34-46页 | | 2.3.1 双频条纹时间相位展开原理 | 第34-37页 | | 2.3.2 相位展开误差分析 | 第37-46页 | | 2.4 三维测量与抗干扰能力验证仿真实验 | 第46-50页 | | 2.5 本章小结 | 第50-51页 | | 第3章 双频模式时间相位展开方法及其对比 | 第51-75页 | | 3.1 引言 | 第51-52页 | | 3.2 双频分层相位展开原理及误差 | 第52-59页 | | 3.3 双频外差相位展开原理及误差 | 第59-63页 | | 3.4 双频数论相位展开原理及误差 | 第63-65页 | | 3.5 错位双频条纹结构光相位展开原理及误差分析 | 第65-69页 | | 3.6 双频模式时间相位展开方法对比分析及仿真实验 | 第69-74页 | | 3.7 本章小结 | 第74-75页 | | 第4章 三频条纹结构光相位展开方法研究 | 第75-90页 | | 4.1 引言 | 第75页 | | 4.2 三频条纹结构光相位展开方法 | 第75-79页 | | 4.3 无误差展开容限分析 | 第79-83页 | | 4.4 等效波长确定与组合波长优化 | 第83-88页 | | 4.4.1 三组条纹等效波长计算 | 第83-84页 | | 4.4.2 组合波长优化设计 | 第84-88页 | | 4.5 三维测量与抗干扰能力验证仿真实验 | 第88-89页 | | 4.6 本章小结 | 第89-90页 | | 第5章 条纹结构光高亮抑制方法研究 | 第90-103页 | | 5.1 引言 | 第90页 | | 5.2 基于扩散板的高亮抑制方法 | 第90-97页 | | 5.2.1 基于扩散板的实验平台设计 | 第90-91页 | | 5.2.2 强反射表面测量系统中扩散板的选取 | 第91-94页 | | 5.2.3 线性扩散板抑制高亮原理分析 | 第94-97页 | | 5.3 反射分量分离理论与像素填补方法相结合的高亮抑制方法 | 第97-102页 | | 5.3.1 高亮像素的位置确定 | 第98-99页 | | 5.3.2 基于优先级的像素填补方法 | 第99-102页 | | 5.4 本章小结 | 第102-103页 | | 第6章 三维测量与高亮抑制实验研究 | 第103-119页 | | 6.1 引言 | 第103页 | | 6.2 三维测量实验 | 第103-113页 | | 6.2.1 平面 | 第105-107页 | | 6.2.2 解析物体组合 | 第107-108页 | | 6.2.3 石膏像 | 第108-111页 | | 6.2.4 微观浮雕 | 第111-113页 | | 6.3 高亮抑制实验 | 第113-116页 | | 6.3.1 基于扩散板的高亮抑制 | 第113-115页 | | 6.3.2 反射分量分离与优先级的像素填补结合的高亮抑制 | 第115-116页 | | 6.4 本章小结 | 第116-119页 | | 结论 | 第119-121页 | | 参考文献 | 第121-133页 | | 攻读学位期间发表的学术论文 | 第133-135页 | | 致谢 | 第135页 |
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