论文目录 | |
| 摘要 | 第1-6页 |
| abstract | 第6-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-33页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 激光诱导击穿光谱技术 | 第16-22页 |
| 1.3 国内外进展 | 第22-30页 |
| 1.3.1 国外进展 | 第22-28页 |
| 1.3.2 国内进展 | 第28-30页 |
| 1.4 本论文主要研究内容 | 第30-33页 |
| 第2章 激光诱导击穿光谱技术理论基础 | 第33-51页 |
| 2.1 引言 | 第33页 |
| 2.2 激光与气体相互作用过程 | 第33-37页 |
| 2.2.1 多光子电离 | 第34-35页 |
| 2.2.2 级联电离 | 第35-36页 |
| 2.2.3 等离子体的膨胀 | 第36-37页 |
| 2.3 激光诱导等离子体光谱 | 第37-45页 |
| 2.3.1 等离子体中的辐射过程 | 第37-40页 |
| 2.3.2 等离子体中的展宽机制 | 第40-45页 |
| 2.4 LIBS技术理论基础 | 第45-46页 |
| 2.5 等离子体基本热力学参数 | 第46-49页 |
| 2.5.1 等离子体温度的计算 | 第46-48页 |
| 2.5.2 电子数密度的计算 | 第48-49页 |
| 2.6 本章小结 | 第49-51页 |
| 第3章 激光诱导击穿光谱测量装置及光谱数据处理方法研究 | 第51-75页 |
| 3.1 引言 | 第51页 |
| 3.2 LIBS实验装置及测量系统校准 | 第51-58页 |
| 3.2.1 LIBS实验装置 | 第51-53页 |
| 3.2.2 测量系统标定和校准 | 第53-58页 |
| 3.3 光谱信号背景扣除 | 第58-63页 |
| 3.3.1 基于离散小波变换的背景扣除方法 | 第58-61页 |
| 3.3.2 基于数学形态学的背景扣除方法 | 第61-63页 |
| 3.4 光谱信号降噪 | 第63-68页 |
| 3.4.1 àtrous算法与静态小波变换 | 第64-65页 |
| 3.4.2 小波阈值降噪 | 第65-68页 |
| 3.5 基于连续小波变换的谱线拟合方法 | 第68-73页 |
| 3.6 本章小结 | 第73-75页 |
| 第4章 激光诱导气体等离子体特性研究 | 第75-97页 |
| 4.1 引言 | 第75-76页 |
| 4.2 气体击穿阈值测量 | 第76-79页 |
| 4.3 激光诱导N_2等离子体特性研究 | 第79-87页 |
| 4.3.1 时间分辨光谱 | 第81-83页 |
| 4.3.2 等离子体温度 | 第83-84页 |
| 4.3.3 电子数密度 | 第84-87页 |
| 4.4 激光诱导SF_6等离子体特性研究 | 第87-92页 |
| 4.4.1 等离子体温度 | 第88页 |
| 4.4.2 等离子体组分 | 第88-92页 |
| 4.5 激光诱导N_2/SF_6等离子体 | 第92-95页 |
| 4.6 本章小结 | 第95-97页 |
| 第5章 基于LIBS技术的气体组分定量分析 | 第97-123页 |
| 5.1 引言 | 第97页 |
| 5.2 利用LIBS技术定量分析SF_6中的氧含量 | 第97-108页 |
| 5.2.1 基于参考元素的内标法 | 第101-105页 |
| 5.2.2 基于偏最小二乘回归的定量分析方法 | 第105-108页 |
| 5.3 利用LIBS技术定量分析Ar和N_2中的氧含量 | 第108-116页 |
| 5.3.1 基于连续背景辐射的内标法 | 第111-114页 |
| 5.3.2 Ar和N_2中氧含量检测限分析 | 第114-116页 |
| 5.4 基于CF-LIBS技术的SF_6/Air定量分析模型 | 第116-122页 |
| 5.4.1 CF-LIBS基本原理 | 第116-117页 |
| 5.4.2 利用CF-LIBS技术定量分析SF_6/Air混合气体 | 第117-120页 |
| 5.4.3 CF-LIBS不确定度分析 | 第120-122页 |
| 5.5 本章小结 | 第122-123页 |
| 第6章 总结与展望 | 第123-127页 |
| 6.1 论文主要工作 | 第123-124页 |
| 6.2 本论文创新点 | 第124-125页 |
| 6.3 存在的问题及对后续工作的建议 | 第125-127页 |
| 参考文献 | 第127-147页 |
| 附录1 实验中所用气体参数 | 第147-148页 |
| 附录2 Stark展宽法计算电子数密度涉及的碰撞展宽参数 | 第148-149页 |
| 附录3 SF_6组分仿真涉及的分子常数 | 第149-151页 |
| 附录4 计算电子数密度所用的H_α谱线α_(1/2)值 | 第151-153页 |
| 致谢 | 第153-155页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第155页 |
