论文目录 | |
摘要 | 第1-10页 |
Abstract | 第10-12页 |
1 引言 | 第12-15页 |
1.1 研究背景 | 第12-13页 |
1.2 本文主要工作及内容安排 | 第13-15页 |
2 绪论 | 第15-40页 |
本章概要 | 第15页 |
2.1 引言 | 第15-17页 |
2.2 晶体中的本征缺陷 | 第17-25页 |
2.2.1 点缺陷(point defects) | 第17-18页 |
2.2.2 线缺陷(line defects) | 第18-23页 |
2.2.3 面缺陷(planar defects) | 第23-25页 |
2.3 透射电子显微学方法 | 第25-35页 |
2.3.1 透射电子显微镜的构造及原理 | 第26-30页 |
2.3.2 原位透射电子显微学研究晶体力学行为的两个例子 | 第30-35页 |
2.4 实验仪器与方法 | 第35-40页 |
2.4.1 透射电子显微镜 | 第36页 |
2.4.2 原位力学测试系统 | 第36-40页 |
3 本征缺陷的原位动态表征:单晶金纳米颗粒形变机理的原位观察和理论探讨 | 第40-68页 |
本章概要 | 第40页 |
3.1 研究背景 | 第40-44页 |
3.2 实验结果及讨论 | 第44-66页 |
3.2.1 金纳米颗粒在单轴拉伸下的塑性形变 | 第44-58页 |
3.2.2 金纳米颗粒在非轴向拉伸下的赝弹性应变 | 第58-66页 |
3.3 本章小结 | 第66-68页 |
4 本征缺陷的原位动态表征:一维金属纳米线微观形变机制及宏观力学性能初探 | 第68-80页 |
本章概要 | 第68页 |
4.1 研究背景 | 第68-69页 |
4.2 实验结果及讨论 | 第69-79页 |
4.2.1 原位拉伸银纳米线的方法 | 第69-72页 |
4.2.2 银纳米线在单轴拉伸下的塑性形变 | 第72-75页 |
4.2.3 金纳米线宏观力学性能初探 | 第75-79页 |
4.3 本章小结 | 第79-80页 |
5 本征缺陷的原位修复:多晶氧化锂纳米线力学行为的原位观察 | 第80-92页 |
本章概要 | 第80页 |
5.1 研究背景 | 第80-81页 |
5.2 实验结果及讨论 | 第81-91页 |
5.2.1 原位制备多晶氧化锂纳米线 | 第81-83页 |
5.2.2 电子束辐照对多晶氧化锂纳米线力学行为的影响 | 第83-91页 |
5.3 本章小结 | 第91-92页 |
6 本征缺陷的原位修复:镁合金中纳米孔自愈合过程的原位观察及机制探讨 | 第92-108页 |
本章概要 | 第92页 |
6.1 研究背景 | 第92-96页 |
6.2 实验结果及讨论 | 第96-106页 |
6.2.1 纳米孔的制备 | 第96-98页 |
6.2.2 纳米孔的自愈合过程 | 第98-106页 |
6.3 本章小结 | 第106-108页 |
7 总结与展望 | 第108-111页 |
7.1 主要研究成果 | 第108-109页 |
7.2 展望 | 第109-111页 |
参考文献 | 第111-130页 |
攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第130-134页 |
致谢 | 第134-135页 |