论文目录 | |
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-17页 |
| 第一章 文献综述 | 第17-53页 |
| 1.1 小麦基因组特征和研究的复杂性 | 第17-23页 |
| 1.1.1 普通小麦的形成 | 第17-18页 |
| 1.1.2 小麦基因组特点及研究进展 | 第18-23页 |
| 1.2 小麦条锈病及小麦抗病性研究 | 第23-28页 |
| 1.2.1 小麦条锈菌及其生理小种 | 第23-25页 |
| 1.2.2 条锈病的危害及防治 | 第25-28页 |
| 1.2.3 抗条锈病的遗传学研究 | 第28页 |
| 1.3 小麦抗条锈病基因/QTL研究进展 | 第28-31页 |
| 1.3.1 抗条锈病已知基因的命名、来源与分布 | 第28-30页 |
| 1.3.2 成株期抗条锈病QTL的挖掘及其分子标记 | 第30-31页 |
| 1.4 小麦抗病基因克隆研究进展 | 第31-36页 |
| 1.4.1 植物免疫系统研究进展 | 第31-32页 |
| 1.4.2 植物抗病基因结构 | 第32-33页 |
| 1.4.3 小麦抗病基因的克隆 | 第33-34页 |
| 1.4.4 持久抗病基因所揭示的抗病机制 | 第34-36页 |
| 1.5 基于测序的SNP技术在基因定位克隆中的应用 | 第36-50页 |
| 1.5.1 混池测序在基因定位克隆中的应用 | 第36-41页 |
| 1.5.2 突变体个体测序在小麦上的应用 | 第41-45页 |
| 1.5.3 小麦高通量分子标记的开发与应用 | 第45-50页 |
| 1.6 本研究的目的和意义 | 第50-52页 |
| 1.7 技术路线 | 第52-53页 |
| 第二章 基于BSR-seq及芯片技术构建Yr26的高密度图谱及候选基因分析 | 第53-77页 |
| 2.1 材料与方法 | 第54-62页 |
| 2.1.1 供试材料、实验所用的主要仪器与试剂 | 第54页 |
| 2.1.2 条锈病苗期鉴定 | 第54-55页 |
| 2.1.3 样品DNA提取 | 第55-56页 |
| 2.1.4 混池（BSA）分析 | 第56-57页 |
| 2.1.5 芯片的基因分型和BSR-Seq | 第57-58页 |
| 2.1.6 芯片数据分析 | 第58页 |
| 2.1.7 转录组数据分析 | 第58-61页 |
| 2.1.8 KASP分子标记的开发设计及检测 | 第61页 |
| 2.1.9 重组交换体的筛选和高密度遗传图谱的构建 | 第61-62页 |
| 2.2 结果与分析 | 第62-73页 |
| 2.2.1 抗条锈基因Yr26抗病性鉴定及遗传分析 | 第62-63页 |
| 2.2.2 基于芯片的差异SNP分析 | 第63-65页 |
| 2.2.3 基于BSR-Seq的差异SNP分析 | 第65-67页 |
| 2.2.4 初步推断Yr26目标区间 | 第67页 |
| 2.2.5 候选SNP标记开发及目标区间确认 | 第67-70页 |
| 2.2.6 重组交换株的筛选及高密度遗传图谱构建 | 第70页 |
| 2.2.7 候选基因预测 | 第70-71页 |
| 2.2.8 Yr26共分离标记的单倍型分析 | 第71-72页 |
| 2.2.9 芯片与BSR-Seq所获得的差异SNP密度比较 | 第72-73页 |
| 2.3 讨论 | 第73-77页 |
| 2.3.1 利用BSR-seq定位基因的可靠性 | 第73-74页 |
| 2.3.2 利用芯片定位基因 | 第74-75页 |
| 2.3.3 KASP标记 | 第75页 |
| 2.3.4 对位于染色体着丝粒区域基因克隆策略的探讨 | 第75-77页 |
| 第三章 Yr26突变体库的构建及感病突变体的鉴定 | 第77-83页 |
| 3.1 材料与方法 | 第77-79页 |
| 3.1.1 供试材料与所用的主要试剂 | 第77页 |
| 3.1.2 诱变处理 | 第77-78页 |
| 3.1.3 不同世代突变体库的创建 | 第78页 |
| 3.1.4 感病突变体的筛选及确认 | 第78-79页 |
| 3.2 结果与分析 | 第79-83页 |
| 3.2.1 感病突变体的筛选 | 第79-80页 |
| 3.2.2 SSR标记分析 | 第80-82页 |
| 3.2.3 660K芯片分析 | 第82-83页 |
| 第四章 CIMMYT重要抗源Napo 63 成株期抗条锈病主效QTL定位 | 第83-100页 |
| 4.1 材料与方法 | 第83-87页 |
| 4.1.1 供试材料、实验所用的主要仪器与试剂 | 第83-84页 |
| 4.1.2 表型鉴定 | 第84-85页 |
| 4.1.3 田间表型数据处理 | 第85-86页 |
| 4.1.4 BSA结合小麦芯片分析 | 第86页 |
| 4.1.5 SSR标记验证 | 第86页 |
| 4.1.6 作图群体的基因分型 | 第86页 |
| 4.1.7 连锁作图及QTL分析 | 第86-87页 |
| 4.1.8 比较基因组学及候选基因分析 | 第87页 |
| 4.2 结果与分析 | 第87-97页 |
| 4.2.1 Napo 63 抗病特征 | 第87页 |
| 4.2.2 群体后代条锈病抗性统计分析 | 第87-88页 |
| 4.2.3 利用F2:3 群体进行QTL初定位 | 第88-90页 |
| 4.2.4 QTL的确认及精细定位 | 第90-93页 |
| 4.2.5 连锁标记的单倍型分析 | 第93-95页 |
| 4.2.6 目标QTL的共线性及候选基因分析 | 第95-97页 |
| 4.3 讨论 | 第97-100页 |
| 4.3.1 小麦 2B染色体上已知基因/QTL的比较 | 第97页 |
| 4.3.2 利用BSA结合芯片定位主效QTL的可行性 | 第97-98页 |
| 4.3.3 定位区间的候选基因分析 | 第98页 |
| 4.3.4 Qyrnap.nwafu-2BS在育种中潜在的应用价值 | 第98-100页 |
| 第五章 重要高代系 0303115 H62成株期抗条锈病基因遗传分析及分子作图 | 第100-114页 |
| 5.1 材料与方法 | 第100-102页 |
| 5.1.1 供试材料 | 第100-101页 |
| 5.1.2 表型鉴定 | 第101页 |
| 5.1.3 田间表型数据处理 | 第101页 |
| 5.1.4 BSA结合小麦芯片分析 | 第101页 |
| 5.1.5 多态性SSR标记的筛选 | 第101-102页 |
| 5.2 结果与分析 | 第102-111页 |
| 5.2.1 0303115 H62抗病性鉴定 | 第102页 |
| 5.2.2 后代群体的遗传分析和统计学分析 | 第102-103页 |
| 5.2.3 BSA结合 90K和 660K芯片分析 | 第103-105页 |
| 5.2.4 群体基因分型及构建连锁图谱 | 第105-108页 |
| 5.2.5 QTL分析 | 第108页 |
| 5.2.6 YrH62与 1B上其他抗条锈基因的抗谱比较 | 第108-109页 |
| 5.2.7 连锁标记的单倍型分析 | 第109-110页 |
| 5.2.8 目标区间内候选基因的预测 | 第110-111页 |
| 5.3 讨论 | 第111-114页 |
| 第六章 Friedrichswerther/铭贤169群体成株期抗条锈主效QTL定位 | 第114-126页 |
| 6.1 材料与方法 | 第114页 |
| 6.1.1 供试材料及表型鉴定 | 第114页 |
| 6.1.2 田间表型数据处理 | 第114页 |
| 6.1.3 DNA提取和BSA分析 | 第114页 |
| 6.1.4 标记的基因分型 | 第114页 |
| 6.2 结果与分析 | 第114-124页 |
| 6.2.1 Friedrichswerther及后代群体的抗条锈性统计分析 | 第114-117页 |
| 6.2.2 构建遗传图谱 | 第117-120页 |
| 6.2.3 QTL分析 | 第120-121页 |
| 6.2.4 利用连锁标记对 6B染色体上的基因和QTL进行比较 | 第121-124页 |
| 6.3 讨论 | 第124-126页 |
| 第七章 小麦抗源P10057成株期抗条锈QTL定位及KASP分子辅助选择标记开发 | 第126-135页 |
| 7.1 材料与方法 | 第126-127页 |
| 7.1.1 供试材料 | 第126页 |
| 7.1.2 表型鉴定 | 第126页 |
| 7.1.3 田间数据处理 | 第126页 |
| 7.1.4 BSA分析 | 第126页 |
| 7.1.5 多态性标记的筛选 | 第126-127页 |
| 7.2 结果与分析 | 第127-133页 |
| 7.2.1 P10057及后代群体的抗条锈性统计分析 | 第127-128页 |
| 7.2.2 利用AvS/P10057的F2:3 群体进行QTL定位 | 第128-131页 |
| 7.2.3 利用铭贤 169/P10057的F2:6 群体验证QTL | 第131-132页 |
| 7.2.4 铭贤 169/P10057群体QTL加性效应分析 | 第132-133页 |
| 7.2.5 紧密连锁标记在育种群体中的检测 | 第133页 |
| 7.3 讨论 | 第133-135页 |
| 第八章 全文结论 | 第135-137页 |
| 参考文献 | 第137-159页 |
| 附录 | 第159-176页 |
| 缩略词 | 第176-178页 |
| 致谢 | 第178-180页 |
| 作者简介 | 第180-182页 |
