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低功耗SOC物理实现的电源完整性分析
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低功耗SOC物理实现的电源完整性分析
论文目录
摘要
第1-6页
ABSTRACT
第6-12页
符号对照表
第12-13页
缩略语对照表
第13-17页
第一章 绪论
第17-23页
1.1 论文研究背景和意义
第17-19页
1.2 国内外研究现状
第19-20页
1.3 论文主要工作和内容安排
第20-23页
第二章 芯片电源完整性原理
第23-37页
2.1 芯片电源网络模型
第23-24页
2.2 芯片电源完整性基本概念
第24-29页
2.2.1 电压降
第24-27页
2.2.2 电迁移
第27-29页
2.3 芯片功耗形成原理
第29-31页
2.3.1 静态功耗
第29-30页
2.3.2 动态功耗
第30-31页
2.4 芯片电源模型简介
第31-35页
2.4.1 目标阻抗
第33-34页
2.4.2 芯片电源模型的影响
第34-35页
2.5 本章小结
第35-37页
第三章 早期电源完整性分析
第37-65页
3.1 不同设计阶段的电源完整性应用
第37-39页
3.2 早期直流分析
第39-52页
3.2.1 早期直流分析方法
第40-46页
3.2.2 早期电源网络的连接性检查
第46-47页
3.2.3 早期静态电压降和电迁移检查
第47-50页
3.2.4 早期Switch Cell和电源Bump评估
第50-52页
3.3 早期瞬态分析
第52-58页
3.3.1 早期瞬态分析方法
第52-54页
3.3.2 瞬态电流波形提取与验证
第54-56页
3.3.3 早期CPM模型的生成
第56-58页
3.4 芯片-封装-印刷电路板联合仿真
第58-63页
3.5 本章小结
第63-65页
第四章 后期电源完整性分析
第65-77页
4.1 后期电源完整性分析建模
第65-68页
4.1.1 电源供电网络建模
第65-66页
4.1.2 标准单元的建模
第66-67页
4.1.3 Switch Cell的建模
第67-68页
4.2 后期电源完整性分析流程
第68-71页
4.3 后期电源完整性优化
第71-76页
4.3.1 静态电压降和电迁移问题
第71-73页
4.3.2 动态电压降问题
第73-76页
4.4 本章小结
第76-77页
第五章 基于退火算法的电源Bump优化与结果分析
第77-93页
5.1 快速电压降迭代模型
第77-82页
5.1.1 区域功耗和电阻差异
第77-80页
5.1.2 物理迭代模型
第80-82页
5.2 退火算法在电源Bump优化中的实现
第82-91页
5.2.1 算法原理
第82-85页
5.2.2 算法流程图
第85-86页
5.2.3 算法运行结果与验证
第86-91页
5.3 本章小结
第91-93页
第六章 总结与展望
第93-95页
参考文献
第95-99页
致谢
第99-101页
作者简介
第101-102页
本篇论文共
102
页,
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。
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