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白光扫描干涉法测量三维表面形貌的研究

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白光扫描干涉法测量三维表面形貌的研究
论文目录
 
1 绪论第1-8 页
  · 本课题的研究背景第6-7 页
  · 主要任务第7-8 页
2 表面形貌测量方法及其原理第8-14 页
  · 触针法第8 页
  · 光切法第8-9 页
  · 光斑法第9-10 页
  · 光纤传感法第10 页
  · 显微干涉法第10-11 页
  · 扫描电子显微镜第11-12 页
  · 扫描隧道显微镜第12 页
  · 原子力显微镜第12-13 页
  · 本章小结第13-14 页
3 显微干涉法测试原理以及干涉显微镜的发展现状第14-26 页
  · 双光路干涉显微镜和测试原理第14-21 页
    · 双光路干涉显微镜第14-16 页
    · 移相型显微干涉(PSMI)原理第16-17 页
    · 白光垂直扫描干涉(VSI)原理第17-20 页
    · VSI和PSMI的组合原理第20-21 页
    · 干涉条纹频域分析(FDA)原理第21 页
  · 共光路干涉显微镜和测试原理第21-24 页
    · 双焦干涉显微镜及其测试原理第21-23 页
    · 微分干涉显微镜及其测试原理第23-24 页
  · 本章小结第24-26 页
4 白光显微干涉傅立叶频域分析(FDA)原理第26-45 页
  · 原理第26-27 页
  · 原理仿真第27-41 页
    · 仿真方法第27-30 页
    · 仿真方法的比较第30-40 页
    · 三维表面的仿真计算第40-41 页
  · 频域分析法误差分析第41-44 页
    · PZT步进间隔标定误差分析第42-43 页
    · PZT的非线性误差分析第43-44 页
  · 本章小结第44-45 页
5 实验数据的采集与处理第45-61 页
  · 实验装置第45-46 页
  · 压电陶瓷(PZT)步进间隔的标定第46-51 页
    · 压电陶瓷电压与伸长量关系的测量原理第46-50 页
    · 利用白光干涉计算PZT步进间隔第50-51 页
  · 实验数据的采集与处理第51-60 页
    · PZT的标定第51-55 页
    · 三维表面的计算第55-60 页
  · 本章小结第60-61 页
结论第61-62 页
致谢第62-63 页
参考文献第63-64 页

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