蒸气发生—原子荧光光谱分析技术在矿产品重金属元素分析中的应用 |
论文目录 | | 摘要 | 第1-8页 | ABSTRACT | 第8-10页 | 目录 | 第10-14页 | 第一章 绪论 | 第14-33页 | · 综述性文献 | 第14-15页 | · 标准化现状 | 第15-16页 | · 单元素分析 | 第16-20页 | · 砷含量测定 | 第16-17页 | · 锑含量测定 | 第17页 | · 铋含量测定 | 第17-18页 | · 汞含量测定 | 第18页 | · 硒含量测定 | 第18页 | · 碲含量测定 | 第18-19页 | · 铅含量测定 | 第19页 | · 锡含量测定 | 第19页 | · 其他元素的测定 | 第19-20页 | · 多元素分析 | 第20-22页 | · 多元素连续分析 | 第20-21页 | · 多元素同时分析 | 第21-22页 | · 形态分析 | 第22-24页 | · 砷形态分析 | 第22-23页 | · 锑形态分析 | 第23页 | · 汞形态分析 | 第23页 | · 硒形态分析 | 第23-24页 | · 蒸气发生-原子荧光光谱分析技术介绍 | 第24-31页 | · 蒸气发生-原子荧光光谱分析技术基本原理 | 第25-26页 | · 蒸气发生-原子荧光光谱分析技术的特点 | 第26-27页 | · 氢化物发生方法 | 第27-30页 | · 硼氢化钾(钠)—酸还原体系 | 第30-31页 | · 国内外研究现状 | 第31-32页 | · 课题意义及创新 | 第32-33页 | · 课题意义 | 第32页 | · 创新性 | 第32-33页 | 第二章 氢化物发生-原子荧光光谱法测定氟石中锑的方法研究 | 第33-56页 | · 实验部分 | 第33-39页 | · 仪器及工作条件 | 第33-35页 | · 实验原理 | 第35页 | · 标准溶液和主要试剂 | 第35-36页 | · 样品前处理实验方法 | 第36-37页 | · HG-AFS测量前处理方法 | 第36-37页 | · ICP-MS测量前处理方法 | 第37页 | · 共存离子的干扰实验方法 | 第37-38页 | · 氟离子的干扰 | 第37页 | · 钙离子的干扰 | 第37页 | · 铁离子的干扰 | 第37-38页 | · 锰离子的干扰 | 第38页 | · 样品测定 | 第38页 | · 方法评价 | 第38-39页 | · 结果与讨论 | 第39-55页 | · 原子荧光光谱仪仪器条件的确定 | 第39-43页 | · 荧光强度与负高压的关系 | 第39-40页 | · 荧光强度与灯电流的关系 | 第40-41页 | · 荧光强度与载气流量的关系 | 第41页 | · 荧光强度与屏蔽气流量的关系 | 第41-42页 | · 荧光强度与原子化器高度的关系 | 第42-43页 | · 样品处理条件的确定 | 第43-49页 | · 溶解样品方法的影响 | 第43-44页 | · 介质酸度的影响 | 第44-46页 | · 预还原剂的选择及用量的影响 | 第46-48页 | · KBH_4浓度的影响 | 第48-49页 | · 共存离子的干扰及消除 | 第49-53页 | · 氟对锑测定的干扰 | 第49-51页 | · 其他共存元素对锑测定的干扰 | 第51-53页 | · 检测方法评价 | 第53-55页 | · 线性同归方程 | 第53页 | · 方法的检出限、测定下限 | 第53-54页 | · 方法的精密度 | 第54-55页 | · 方法的准确度 | 第55页 | · 结语 | 第55-56页 | 第三章 高氟体系中锑的原子荧光光谱形态分析研究 | 第56-75页 | · 实验部分 | 第56-59页 | · 仪器及工作条件 | 第56-57页 | · 标准溶液和主要试剂 | 第57-58页 | · 掩蔽抗干扰剂选择的实验方法 | 第58页 | · 样品前处理的实验方法 | 第58页 | · 样品测定 | 第58-59页 | · 方法评价 | 第59页 | · 结果与讨论 | 第59-74页 | · 酸度及氟离子对锑荧光强度的影响 | 第59-61页 | · 掩蔽抗干扰剂的选择 | 第61-68页 | · 络合剂浓度对锑荧光强度的影响 | 第68-69页 | · 氟石样品中Sb(Ⅲ)提取实验条件的确定 | 第69-72页 | · 提取剂盐酸浓度的选择 | 第69-70页 | · 提取时间的选择 | 第70-71页 | · 提取温度的选择 | 第71-72页 | · 检测方法评价 | 第72-74页 | · 线性回归方程 | 第72-73页 | · 方法的检出限、测定下限 | 第73-74页 | · 方法的准确度 | 第74页 | · 结语 | 第74-75页 | 第四章 氢化物发生-原子荧光光谱法测定磷矿石中锑的方法研究 | 第75-90页 | · 实验部分 | 第75-79页 | · 仪器及工作条件 | 第75-76页 | · 标准溶液和主要试剂 | 第76-77页 | · 样品前处理实验方法 | 第77-78页 | · HG-AFS法测量样品的前处理方法 | 第77-78页 | · ICP-MS法测量样品的前处理方法 | 第78页 | · 共存离子的干扰实验方法 | 第78-79页 | · PO_4~(3-)的干扰 | 第78页 | · Ca~(2+)的干扰 | 第78页 | · Mg~(2+),Fe~(3+),Al~(3+),Ti(Ⅳ),K~+,Na~+等的干扰 | 第78-79页 | · 样品测定 | 第79页 | · 检测方法的评价 | 第79页 | · 结果与讨论 | 第79-89页 | · 样品前处理实验条件的确定 | 第79-86页 | · 溶样酸介质初选 | 第79-80页 | · 溶样酸及赶酸方式的确定 | 第80-81页 | · 溶样温度及时间的影响 | 第81-83页 | · 介质酸度的影响 | 第83-84页 | · KBH_4浓度的影响 | 第84-85页 | · 预还原剂的用量及反应时间的影响 | 第85-86页 | · 共存离子的干扰及消除 | 第86-87页 | · 检测方法评价 | 第87-89页 | · 线性回归方程 | 第87-88页 | · 方法的检出限、测定下限 | 第88页 | · 方法的精密度 | 第88-89页 | · 方法的准确度 | 第89页 | · 结语 | 第89-90页 | 参考文献 | 第90-102页 | 攻读学位期间的研究成果目录 | 第102-103页 | 致谢 | 第103
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