论文目录 | |
摘要 | 第1-5
页 |
ABSTRACT | 第5-8
页 |
第1章 绪论 | 第8-18
页 |
· 电介质材料的研究意义 | 第8
页 |
· 介电材料的研究背景及现状 | 第8-16
页 |
· 研究背景 | 第8-10
页 |
· 高介电系数材料的研究现状 | 第10
页 |
· 钽铌钛体系介电陶瓷的研究 | 第10-16
页 |
· 钽钛体系 | 第11-13
页 |
· 铌钽体系 | 第13-14
页 |
· 铌钽钛体系 | 第14-15
页 |
· 铌钛体系 | 第15-16
页 |
· 本论文的主要研究内容 | 第16-18
页 |
第2章 电介质物理基本理论和电子陶瓷工艺 | 第18-28
页 |
· 基本理论 | 第18-19
页 |
· 相对介电系数与介电损耗 | 第19-21
页 |
· 极化与极化机制 | 第21-24
页 |
· 介电驰豫 | 第24
页 |
· 电子陶瓷烧结工艺 | 第24-26
页 |
· 制备流程图 | 第24
页 |
· 预烧工艺 | 第24-25
页 |
· 烧结工艺 | 第25
页 |
· 烧结温度与保温时间 | 第25-26
页 |
· 实验分析方法 | 第26-28
页 |
· 介电性能的测试 | 第26
页 |
· X射线衍射(XRD,X-Ray Diffraction) | 第26-27
页 |
· 扫描电镜(SEM)测试 | 第27-28
页 |
第3章 (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x体系陶瓷烧结工艺和介电性能的研究 | 第28-50
页 |
· 预烧和烧结温度范围的确定 | 第28-30
页 |
· 烧结条件的讨论 | 第30-33
页 |
· 烧结温度的变化对陶瓷的致密度、介电系数的影响 | 第30-32
页 |
· 烧结温度与保温时间的相互调节 | 第32-33
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x体系的制备工艺 | 第33
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的介电性能 | 第33-35
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的相结构 | 第35-37
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷室温条件下介电性能随频率的变化 | 第37-40
页 |
· (N6205)0.95(Ti02)0.05陶瓷的Argand图 | 第39-40
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的介电性能随温度的变化 | 第40-43
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(TiO_2)_x陶瓷的微观结构 | 第43-45
页 |
· (Nb_2O_5)_(0.95)(TiO_2)_(0.05)系列陶瓷各向异性的研究 | 第45-49
页 |
· 小结 | 第49-50
页 |
第4章 (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷体系的介电性能研究 | 第50-57
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x体系的烧结工艺 | 第50
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷的介电性能 | 第50-51
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷室温下的变频图 | 第51-53
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷的相结构 | 第53
页 |
· (Nb_2O_5)_(1-x)(Ta_2O_5)_x陶瓷的微观结构 | 第53-55
页 |
· (Nb_2O_5)_(0.92)(Ta_2O_5)_(0.08)陶瓷各项异性的研究 | 第55-56
页 |
· 小结 | 第56-57
页 |
结论 | 第57-58
页 |
参考文献 | 第58-61
页 |
攻读硕士学位期间申请的专利和发表的论文 | 第61-62
页 |
致谢 | 第62页 |