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基于模拟IC自动测试仪的任意波形发生器设计与实现

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基于模拟IC自动测试仪的任意波形发生器设计与实现
论文目录
 
摘要第1-6页
ABSTRACT第6-9页
第一章 绪论第9-14页
  1.1 集成电路自动测试系统发展及现状第9-10页
  1.2 任意波形发生器发展过程第10-12页
  1.3 本课题来源及意义第12页
  1.4 本课题研究内容及架构第12-14页
第二章 系统硬件架构设计第14-22页
  2.1 模拟IC自动测试仪系统硬件架构第14-15页
  2.2 任意波形发生器的理论分析第15-20页
    2.2.1 直接数字波形合成(DDWS)第15-16页
    2.2.2 直接数字频率合成(DDFS)第16-20页
  2.3 任意波形发生器硬件架构设计第20-21页
  2.4 本章总结第21-22页
第三章 AWG硬件设计实现第22-47页
  3.1 FPGA及其配置电路的设计第22-23页
  3.2 波形存储电路的设计第23-25页
  3.3 DAC产生波形电路第25-27页
  3.4 滤波电路第27-29页
  3.5 差分转单端模块第29-30页
  3.6 信号幅度调节模块第30-35页
    3.6.1 信号幅度粗调电路第30-32页
    3.6.2 信号幅度精调电路第32-35页
  3.7 直流偏置模块第35-36页
  3.8 输出阻抗选择模块第36页
  3.9 信号调理模块第36-39页
    3.9.1 信号调理模块辅助电路第37页
    3.9.2 ADC电路第37-39页
  3.10 同步输出模块第39-40页
  3.11 直流参数模块第40-42页
  3.12 高频正弦模块第42-46页
  3.13 本章总结第46-47页
第四章 系统软件设计第47-63页
  4.1 模拟IC测试机用户界面设计第47-58页
    4.1.1 工程模式第47-50页
    4.1.2 生产模式第50-58页
  4.2 FPGA逻辑控制设计第58-62页
  4.3 本章总结第62-63页
第五章 AWG硬件测试与验证第63-74页
  5.1 AWG硬件测试结果第64-71页
    5.1.1 AD9777产生的波形第64-65页
    5.1.2 滤波模块第65-67页
    5.1.3 差分转单端第67-68页
    5.1.4 精调模块第68页
    5.1.5 粗调模块第68-69页
    5.1.6 幅度偏移电路第69-70页
    5.1.7 ADC采样电路第70-71页
  5.2 AWG系统输出第71-73页
    5.2.1 ARB模式输出波形第71-72页
    5.2.2 高频正弦模式输出波形第72-73页
    5.2.3 设计未解决的问题第73页
  5.3 本章总结第73-74页
第六章 结论与展望第74-75页
致谢第75-76页
参考文献第76-78页
攻读硕士学位期间取得的成果第78-79页

本篇论文共79页,点击这进入下载页面
 
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