论文目录 | |
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-13页 |
第一章 绪论 | 第13-17页 |
1.1 课题研究背景 | 第13-14页 |
1.2 液晶电控波片研究与应用 | 第14-16页 |
1.3 本文研究的内容 | 第16-17页 |
第二章 液晶光电子器件的电控光程差的理论基础 | 第17-36页 |
2.1 液晶指向矢在外加电场下的计算 | 第17-24页 |
2.1.1 液晶连续弹性体理论 | 第17-19页 |
2.1.1.1 液晶的弹性能密度 | 第18-19页 |
2.1.1.2 外场下液晶的弹性自由能 | 第19页 |
2.1.2 用连续弹性体理论对液晶指向矢分布进行计算 | 第19-24页 |
2.1.2.1 计算方法理论基础 | 第20-22页 |
2.1.2.2 差分迭代法计算液晶指向矢 | 第22-24页 |
2.2 液晶光子学器件电控物理基础知识 | 第24-28页 |
2.2.1 单轴晶体的光学性质 | 第24-26页 |
2.2.2 液晶的电控双折射效应 | 第26-28页 |
2.3 液晶光子学器件光程差建模与仿真 | 第28-35页 |
2.3.1 液晶光子学器件光程差计算模型 | 第29-30页 |
2.3.2 液晶光子学器件光程差模拟仿真 | 第30-35页 |
2.3.2.1 液晶电控波片计算结果 | 第31页 |
2.3.2.2 光寻址SLM计算结果 | 第31-34页 |
2.3.2.3 液晶光楔计算结果 | 第34-35页 |
2.4 本章小结 | 第35-36页 |
第三章 液晶光电子器件的电控光程差测试理论 | 第36-46页 |
3.1 新型补偿法研究 | 第36-42页 |
3.1.1 1/4 波片法测量原理及方法 | 第36-38页 |
3.1.2 液晶波片补偿法测量理论建立与分析 | 第38-42页 |
3.2 显微光程分布测试系统设计 | 第42-45页 |
3.2.1 基于 1/4 波片法测试延迟分布的显微测试系统整体设计 | 第42-44页 |
3.2.2 液晶波片补偿法测试延迟分布的显微测试系统整体设计 | 第44-45页 |
3.3 本章小结 | 第45-46页 |
第四章 液晶补偿器电控光程差标定、测量与验证 | 第46-55页 |
4.1 1/4 波片法标定液晶电控补偿器 | 第46-49页 |
4.1.1 系统调整 | 第46页 |
4.1.2 1/4 波片法标定液晶电控波片 | 第46-49页 |
4.1.2.1 定标不同厚度的液晶电控波片光程差特性 | 第47-48页 |
4.1.2.2 定标不同频率驱动时的液晶电控波片光程差特性 | 第48-49页 |
4.1.2.3 定标不同波形驱动时的液晶电控波片光程差特性 | 第49页 |
4.2 液晶波片补偿法相互测量标定与验证 | 第49-54页 |
4.2.1 系统调整与分析 | 第50-51页 |
4.2.1.1 单色光补偿法显微测试系统调整 | 第50页 |
4.2.1.2 白光补偿法显微测试系统调整 | 第50-51页 |
4.2.2 实验测量 | 第51-54页 |
4.2.2.1 不同光源系统下液晶波片补偿法测量及结果分析 | 第51-52页 |
4.2.2.2 不同电源控制系统下液晶波片补偿法测量及结果分析 | 第52-54页 |
4.3 本章小结 | 第54-55页 |
第五章 液晶波片补偿法测量光程差二维分布的实验研究 | 第55-68页 |
5.1 1/4 波片法测试液晶器件二维延迟特性的实验测量 | 第55-58页 |
5.1.1 1/4 波片法测试液晶光楔二维光程差分布 | 第56-57页 |
5.1.2 1/4 波片法测试光寻址SLM光程差二维分布 | 第57-58页 |
5.2 液晶波片补偿法测试液晶器件二维延迟特性的实验测量 | 第58-66页 |
5.2.1 液晶波片补偿法测试液晶光楔二维光程差分布 | 第59-62页 |
5.2.2 液晶波片补偿法测试光寻址SLM光程差二维分布 | 第62-66页 |
5.2.3 两种光源系统测试结果分析 | 第66页 |
5.3 上述两种方法的比较 | 第66-67页 |
5.4 本章小结 | 第67-68页 |
第六章 总结与展望 | 第68-71页 |
6.1 主要研究工作总结 | 第68-70页 |
6.2 课题创新点 | 第70页 |
6.3 展望 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
附录 | 第76-82页 |
攻读硕士期间的研究成果 | 第82-83页 |