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512Kbit反熔丝OTP存储器设计及实现技术研究
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512Kbit反熔丝OTP存储器设计及实现技术研究
论文目录
摘要
第1-6页
ABSTRACT
第6-10页
第一章 绪论
第10-17页
1.1 研究的背景和意义
第10-12页
1.2 国内外发展现状
第12-15页
1.3 论文结构与主要工作
第15-17页
第二章 反熔丝OTP存储单元
第17-23页
2.1 反熔丝击穿机理
第17-18页
2.2 反熔丝存储单元设计
第18-22页
2.2.1 1T1C单元结构
第18-20页
2.2.2 反熔丝单元仿真模型
第20-21页
2.2.3 反熔丝单元仿真
第21-22页
2.3 本章小结
第22-23页
第三章 存储器电路设计以及仿真验证
第23-47页
3.1 整体电路结构设计
第23-24页
3.2 存储器ESD防护设计
第24-28页
3.2.1 ESD模型及常用防护器件
第24-25页
3.2.2 OTP存储器ESD保护方案
第25-28页
3.3 存储阵列及冗余测试电路设计
第28-33页
3.3.1 存储阵列及译码结构
第29-31页
3.3.2 冗余测试电路设计及仿真
第31-33页
3.4 存储器编程电路设计
第33-38页
3.4.1 电荷泵振荡信号产生电路
第33-34页
3.4.2 电荷泵电路设计
第34-38页
3.5 存储器读出电路
第38-42页
3.5.1 灵敏放大器设计
第38-41页
3.5.2 锁存器设计
第41-42页
3.6 OTP存储器全电路仿真
第42-45页
3.6.1 基于AMS的全电路功能验证
第43-45页
3.6.2 基于Finesim的全电路模拟仿真
第45页
3.7 本章小结
第45-47页
第四章 存储器物理实现
第47-55页
4.1 版图设计
第47-52页
4.1.1 版图布局布线
第47-49页
4.1.2 版图抗辐照加固
第49-52页
4.2 版图验证
第52页
4.3 后仿真验证
第52-54页
4.4 本章小结
第54-55页
第五章 存储器芯片测试
第55-62页
5.1 测试系统
第56-58页
5.2 芯片功能测试
第58-61页
5.3 本章小结
第61-62页
第六章 结论
第62-63页
致谢
第63-64页
参考文献
第64-66页
攻读硕士学位期间取得的成果
第66-67页
本篇论文共
67
页,
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。
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