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A型漏电保护器专用控制芯片的优化设计
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A型漏电保护器专用控制芯片的优化设计
论文目录
致谢
第1-5页
摘要
第5-6页
Abstract
第6-8页
缩略词表
第8-12页
1 绪论
第12-18页
1.1 课题的背景及意义
第12-13页
1.2 A型漏电保护器的发展历程和国内外研究现状
第13-16页
1.2.1 已往的研究
第13-14页
1.2.2 最新的研究成果
第14-16页
1.3 本论文的主要工作和组织结构
第16-18页
1.3.1 本论文的主要研究内容
第16页
1.3.2 本论文的组织结构
第16-18页
2 芯片的系统设计
第18-25页
2.1 A型漏电保护器的工作原理
第18-19页
2.2 A型漏电保护器专用集成电路芯片ZDAB的系统结构
第19-20页
2.3 ZDAB实现漏电保护的过程
第20-21页
2.4 ZDAB电路各模块对漏电脱扣阈值离散的影响
第21-23页
2.5 ZDAB的设计指标
第23-24页
2.6 本章小结
第24-25页
3 芯片的电路设计与实现
第25-66页
3.1 低输入失调电压运放的设计
第25-43页
3.1.1 集成电路设计中的不匹配因素
第25-29页
3.1.2 运放的输入失调电压
第29-31页
3.1.3 减小运放输入失调电压的技术
第31-36页
3.1.4 ZDAB斩波稳定运放的设计
第36-43页
3.2 参考电压产生电路设计
第43-44页
3.3 PVT补偿的振荡电路
第44-57页
3.3.1 片上振荡电路频率PVT补偿方法
第45-52页
3.3.2 抗PVT变化的尾电流型环形振荡电路
第52-55页
3.3.3 温度离散很低的振荡电路
第55-57页
3.4 优化的A型漏电电流判别算法
第57-62页
3.4.1 算法原理
第57-61页
3.4.2 算法的实现电路
第61-62页
3.5 ZDAB整体功能后仿真
第62-64页
3.6 本章小结
第64-66页
4 芯片的物理实现及测试
第66-87页
4.1 版图中衬底耦合效应
第66页
4.2 版图中减小失配的设计规则
第66-67页
4.3 芯片版图的设计
第67-68页
4.4 芯片的封装
第68-69页
4.5 芯片的测试
第69-83页
4.5.1 芯片的测试电路图
第70-71页
4.5.2 PVT补偿环振测试
第71-74页
4.5.3 ZDAB漏电跳闸值的测试
第74-80页
4.5.4 斩波稳定运放性能测试
第80-81页
4.5.5 M54133的测试
第81-83页
4.6 测试结果对比总结
第83-85页
4.6.1 PVT补偿环振与国际最新文献对比
第83-84页
4.6.2 ZDAB测试结果与M54133测试结果对比
第84页
4.6.3 ZDAB测试结果与设计指标的总结
第84-85页
4.7 本章小结
第85-87页
5 总结与展望
第87-89页
5.1 总结
第87-88页
5.2 展望
第88-89页
参考文献
第89-94页
作者简历及在学期间所取得的科研成果
第94页
本篇论文共
94
页,
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。
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