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A型漏电保护器专用控制芯片的优化设计

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A型漏电保护器专用控制芯片的优化设计
论文目录
 
致谢第1-5页
摘要第5-6页
Abstract第6-8页
缩略词表第8-12页
1 绪论第12-18页
  1.1 课题的背景及意义第12-13页
  1.2 A型漏电保护器的发展历程和国内外研究现状第13-16页
    1.2.1 已往的研究第13-14页
    1.2.2 最新的研究成果第14-16页
  1.3 本论文的主要工作和组织结构第16-18页
    1.3.1 本论文的主要研究内容第16页
    1.3.2 本论文的组织结构第16-18页
2 芯片的系统设计第18-25页
  2.1 A型漏电保护器的工作原理第18-19页
  2.2 A型漏电保护器专用集成电路芯片ZDAB的系统结构第19-20页
  2.3 ZDAB实现漏电保护的过程第20-21页
  2.4 ZDAB电路各模块对漏电脱扣阈值离散的影响第21-23页
  2.5 ZDAB的设计指标第23-24页
  2.6 本章小结第24-25页
3 芯片的电路设计与实现第25-66页
  3.1 低输入失调电压运放的设计第25-43页
    3.1.1 集成电路设计中的不匹配因素第25-29页
    3.1.2 运放的输入失调电压第29-31页
    3.1.3 减小运放输入失调电压的技术第31-36页
    3.1.4 ZDAB斩波稳定运放的设计第36-43页
  3.2 参考电压产生电路设计第43-44页
  3.3 PVT补偿的振荡电路第44-57页
    3.3.1 片上振荡电路频率PVT补偿方法第45-52页
    3.3.2 抗PVT变化的尾电流型环形振荡电路第52-55页
    3.3.3 温度离散很低的振荡电路第55-57页
  3.4 优化的A型漏电电流判别算法第57-62页
    3.4.1 算法原理第57-61页
    3.4.2 算法的实现电路第61-62页
  3.5 ZDAB整体功能后仿真第62-64页
  3.6 本章小结第64-66页
4 芯片的物理实现及测试第66-87页
  4.1 版图中衬底耦合效应第66页
  4.2 版图中减小失配的设计规则第66-67页
  4.3 芯片版图的设计第67-68页
  4.4 芯片的封装第68-69页
  4.5 芯片的测试第69-83页
    4.5.1 芯片的测试电路图第70-71页
    4.5.2 PVT补偿环振测试第71-74页
    4.5.3 ZDAB漏电跳闸值的测试第74-80页
    4.5.4 斩波稳定运放性能测试第80-81页
    4.5.5 M54133的测试第81-83页
  4.6 测试结果对比总结第83-85页
    4.6.1 PVT补偿环振与国际最新文献对比第83-84页
    4.6.2 ZDAB测试结果与M54133测试结果对比第84页
    4.6.3 ZDAB测试结果与设计指标的总结第84-85页
  4.7 本章小结第85-87页
5 总结与展望第87-89页
  5.1 总结第87-88页
  5.2 展望第88-89页
参考文献第89-94页
作者简历及在学期间所取得的科研成果第94页

本篇论文共94页,点击这进入下载页面
 
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