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基于JTAG的芯片测试系统研究
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基于JTAG的芯片测试系统研究
论文目录
摘要
第1-6页
ABSTRACT
第6-10页
符号对照表
第10-11页
缩略语对照表
第11-15页
第一章 绪论
第15-21页
1.1 研究背景
第15-16页
1.2 国内外研究现状
第16-17页
1.3 课题研究意义
第17-18页
1.4 研究内容及安排
第18-21页
第二章 JTAG测试技术基础研究
第21-31页
2.1 边界扫描测试技术基本原理
第21页
2.2 测试接口和边界扫描结构
第21-28页
2.2.1 测试访问端口TAP
第22-23页
2.2.2 TAP控制器
第23-25页
2.2.3 指令寄存器
第25-26页
2.2.4 数据寄存器
第26-28页
2.3 边界扫描描述语言
第28-30页
2.4 本章总结
第30-31页
第三章 边界扫描测试理论及算法研究
第31-43页
3.1 边界扫描测试理论及数学模型建立
第31-34页
3.1.1 测试理论基础
第31-33页
3.1.2 数学模型建立
第33-34页
3.2 测试向量的紧凑性与完备性
第34-35页
3.2.1 紧凑性指标
第34-35页
3.2.2 完备性指标
第35页
3.3 传统测试向量生成算法
第35-39页
3.3.1 二进制计数算法
第36-37页
3.3.2 改良计数序列算法
第37页
3.3.3 计数补偿算法
第37-38页
3.3.4 移位“0”和移位“1”算法
第38-39页
3.3.5 等权值抗误判算法
第39页
3.4 基于复杂网络的互连测试优化算法
第39-42页
3.4.1 算法思想及描述
第39-41页
3.4.2 算法性能分析
第41-42页
3.5 本章总结
第42-43页
第四章 边界扫描测试系统设计方案
第43-59页
4.1 总体方案设计
第43-44页
4.2 边界扫描测试方案各模块设计
第44-51页
4.2.1 BSDL文件解析
第44-46页
4.2.2 网表文件解析
第46-47页
4.2.3 完整性测试
第47-48页
4.2.4 互连测试
第48-49页
4.2.5 静态功能测试
第49-50页
4.2.6 故障诊断模块
第50-51页
4.3 结果分析
第51-54页
4.3.1 完整性测试结果分析
第51页
4.3.2 互连测试结果分析
第51-53页
4.3.3 静态功能测试结果分析
第53-54页
4.4 方案设计中遇到的问题及解决方案
第54-57页
4.5 本章总结
第57-59页
第五章 基于覆盖率的仿真验证方法
第59-71页
5.1 常见故障模型设计
第59-62页
5.1.1 固定逻辑故障模型
第59-61页
5.1.2 暂态故障模型
第61页
5.1.3 桥接故障模型
第61-62页
5.2 故障检测和模拟
第62-63页
5.3 基于线网数的故障覆盖率测试方案
第63-69页
5.3.1 故障模型建立
第63-65页
5.3.2 故障发生模拟
第65页
5.3.3 向量对比及结果显示
第65-66页
5.3.4 结果分析
第66-69页
5.4 本章总结
第69-71页
第六章 总结和展望
第71-73页
6.1 总结
第71页
6.2 展望
第71-73页
参考文献
第73-77页
致谢
第77-79页
作者简介
第79-80页
本篇论文共
80
页,
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。
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