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基于JTAG的芯片测试系统研究

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基于JTAG的芯片测试系统研究
论文目录
 
摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
符号对照表第10-11页
缩略语对照表第11-15页
第一章 绪论第15-21页
  1.1 研究背景第15-16页
  1.2 国内外研究现状第16-17页
  1.3 课题研究意义第17-18页
  1.4 研究内容及安排第18-21页
第二章 JTAG测试技术基础研究第21-31页
  2.1 边界扫描测试技术基本原理第21页
  2.2 测试接口和边界扫描结构第21-28页
    2.2.1 测试访问端口TAP第22-23页
    2.2.2 TAP控制器第23-25页
    2.2.3 指令寄存器第25-26页
    2.2.4 数据寄存器第26-28页
  2.3 边界扫描描述语言第28-30页
  2.4 本章总结第30-31页
第三章 边界扫描测试理论及算法研究第31-43页
  3.1 边界扫描测试理论及数学模型建立第31-34页
    3.1.1 测试理论基础第31-33页
    3.1.2 数学模型建立第33-34页
  3.2 测试向量的紧凑性与完备性第34-35页
    3.2.1 紧凑性指标第34-35页
    3.2.2 完备性指标第35页
  3.3 传统测试向量生成算法第35-39页
    3.3.1 二进制计数算法第36-37页
    3.3.2 改良计数序列算法第37页
    3.3.3 计数补偿算法第37-38页
    3.3.4 移位“0”和移位“1”算法第38-39页
    3.3.5 等权值抗误判算法第39页
  3.4 基于复杂网络的互连测试优化算法第39-42页
    3.4.1 算法思想及描述第39-41页
    3.4.2 算法性能分析第41-42页
  3.5 本章总结第42-43页
第四章 边界扫描测试系统设计方案第43-59页
  4.1 总体方案设计第43-44页
  4.2 边界扫描测试方案各模块设计第44-51页
    4.2.1 BSDL文件解析第44-46页
    4.2.2 网表文件解析第46-47页
    4.2.3 完整性测试第47-48页
    4.2.4 互连测试第48-49页
    4.2.5 静态功能测试第49-50页
    4.2.6 故障诊断模块第50-51页
  4.3 结果分析第51-54页
    4.3.1 完整性测试结果分析第51页
    4.3.2 互连测试结果分析第51-53页
    4.3.3 静态功能测试结果分析第53-54页
  4.4 方案设计中遇到的问题及解决方案第54-57页
  4.5 本章总结第57-59页
第五章 基于覆盖率的仿真验证方法第59-71页
  5.1 常见故障模型设计第59-62页
    5.1.1 固定逻辑故障模型第59-61页
    5.1.2 暂态故障模型第61页
    5.1.3 桥接故障模型第61-62页
  5.2 故障检测和模拟第62-63页
  5.3 基于线网数的故障覆盖率测试方案第63-69页
    5.3.1 故障模型建立第63-65页
    5.3.2 故障发生模拟第65页
    5.3.3 向量对比及结果显示第65-66页
    5.3.4 结果分析第66-69页
  5.4 本章总结第69-71页
第六章 总结和展望第71-73页
  6.1 总结第71页
  6.2 展望第71-73页
参考文献第73-77页
致谢第77-79页
作者简介第79-80页

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