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集成电路电光测试仪相关技术研究
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集成电路电光测试仪相关技术研究
论文目录
摘要
第1-6页
Abstract
第6-11页
第一章 绪论
第11-16页
1.1 课题研究背景与意义
第11-13页
1.2 国内外研究现状
第13-15页
1.3 本章小结
第15-16页
第二章 电光采样机制的原理及电路信号的集中处理
第16-23页
2.1 电光采样技术简介
第16-20页
2.2 电路信号的集中处理
第20-21页
2.3 论文探究的主要形式
第21-22页
2.4 本章小结
第22-23页
第三章 光电二极管原理及前置放大器
第23-28页
3.1 光电二极管原理和特性
第23-25页
3.1.1 光电二极管线性关系研究
第23页
3.1.2 光电二极管电流影响因素
第23-24页
3.1.3 光电二极管的滤波装置
第24-25页
3.1.4 光电探测器的配置需求
第25页
3.2 光电二极管前置放大器性能测试
第25-27页
3.2.1 前置放大器的信号优化
第26-27页
3.2.2 前置放大器的性能探究
第27页
3.3 本章小结
第27-28页
第四章 可变中心频率滤波器设计
第28-36页
4.1 程控滤波器与智能滤波器的设计方法
第29-31页
4.2 自动跟踪智能滤波器
第31-32页
4.3 波段滤波处理工作探究
第32-35页
4.4 本章小结
第35-36页
第五章 探究信号测量系统的线路组成
第36-43页
5.1 自动测试系统平台的搭建
第38-41页
5.2 探究结果
第41-42页
5.3 本章小结
第42-43页
第六章 总结
第43-44页
参考文献
第44-47页
作者简介
第47-48页
致谢
第48页
本篇论文共
48
页,
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。
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