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面向高性能处理器的高速数字电路信号完整性验证及优化

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面向高性能处理器的高速数字电路信号完整性验证及优化
论文目录
 
摘要第1-7页
ABSTRACT第7-14页
第一章 绪论第14-18页
  1.1 研究背景与意义第14-15页
  1.2 研究现状第15页
  1.3 研究的目标和主要内容第15-16页
  1.4 论文的章节安排第16-18页
第二章 信号完整性概述第18-21页
  2.1 信号完整性的定义第18页
  2.2 信号完整性问题的产生第18-19页
  2.3 影响高速数字电路信号完整性的因素第19-20页
  2.4 本章小结第20-21页
第三章 面向IVB处理器的高速数字电路的验证方案优化第21-25页
  3.1 系统架构简介第21-23页
  3.2 验证优化方案选择第23-24页
  3.3 面向IVB处理器的高速数字电路的验证方案优化结果分析第24页
  3.4 本章小结第24-25页
第四章 内存子系统信号完整性研究第25-34页
  4.1 DDR3总线的电气特性第26-27页
    4.1.1 更高的传输速率第26-27页
    4.1.2 更低的工作电压第27页
  4.2 内存子系统信号完整性验证与分析实例第27-32页
    4.2.1 测试方法和流程第27-28页
    4.2.2 测试实例第28-32页
  4.3 内存子系统信号完整性验证优化结果第32页
  4.4 本章小结第32-34页
第五章 PCI-EXPRESS子系统信号完整性研究第34-48页
  5.1 PCI-Express总线的电气特性第34页
  5.2 PCI-Express子系统的信号完整性分析和优化第34-46页
    5.2.1 PCI-Express的信号补偿技术第35-37页
    5.2.2 直连PCI-Express的信号完整性第37-39页
    5.2.3 超长PCI-Express的信号完整性第39-46页
  5.3 PCI-Express子系统信号完整性测试优化结果第46-47页
  5.4 本章小结第47-48页
第六章 QPI和DMI信号完整性研究第48-57页
  6.1 QPI和DMI的电气特性第48-49页
  6.2 QPI和DMI信号完整性分析第49-51页
  6.3 QPI和DMI信号完整性优化第51-55页
    6.3.1 QPI和DMI信号完整性优化原理第51-53页
    6.3.2 QPI和DMI信号完整性优化过程第53-54页
    6.3.3 信号完整性优化结果对比第54-55页
  6.4 QPI和DMI信号完整性测试优化结果第55页
  6.5 本章小结第55-57页
第七章 总结与展望第57-60页
参考 文献第60-62页
致谢第62-63页
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文第63-64页
附件第64页

本篇论文共64页,点击这进入下载页面
 
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