电子元器件的外观检测系统的研究与开发

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电子元器件的外观检测系统的研究与开发

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电子元器件的外观检测系统的研究与开发

论文目录
摘要	第1-6页
Abstract	第6-10页
第一章绪论	第10-17页
1.1 研究意义	第10-13页
1.2 国内外研究现状	第13-16页
1.3 本章小结	第16-17页
第二章电子元器件外观检测系统的构建	第17-27页
2.1 机器视觉简介	第17-18页
2.2 CCD简介	第18-21页
2.3 照明选择	第21-24页
2.4 检测系统机械平台的构建	第24-25页
2.5 本章小结	第25-27页
第三章数字图像处理研究	第27-36页
3.1 数字图像处理技术	第27-29页
3.2 电子元器件的分类与检测	第29-32页
3.2.1 电子元器件的分类	第29-31页
3.2.2 电子元器件的外观检测	第31-32页
3.3 图像预处理的基本方法	第32-34页
3.4 本章小结	第34-36页
第四章电子元器件缺陷算法的相关设计	第36-44页
4.1 缺陷检测算法	第36-39页
4.1.1 传统的canny边缘检测法	第36-38页
4.1.2 经过改进的canny边缘检测算法	第38-39页
4.2 片容与铜片缺陷检测	第39-43页
4.2.1 片容检测	第39-42页
4.2.2 铜片检测	第42-43页
4.3 本章小结	第43-44页
第五章总结	第44-45页
参考文献	第45-49页
作者简介	第49-50页
致谢	第50页

本篇论文共50页，点击这进入下载页面。

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