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基于亚微米深孔的Si衬底上GaN选择性外延及横向外延

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基于亚微米深孔的Si衬底上GaN选择性外延及横向外延
论文目录
 
致谢第1-5页
摘要第5-7页
Abstract第7-10页
第一章 引言第10-12页
第二章 GaN性质及GaN晶体的生长第12-37页
  2.1 GaN的基本性质第12-13页
  2.2 提高GaN外延质量的方法第13-36页
    2.2.1 Si上生长缓冲层第14-18页
    2.2.2 “悬空”结构外延GaN第18-26页
    2.2.3 图形化衬底上GaN的选择性外延第26-36页
  2.3 本章小结第36-37页
第三章 亚微米深孔中GaN的异质外延生长第37-56页
  3.1 亚微米深孔实验的提出第37-39页
  3.2 亚微米深孔实验的设计第39-41页
  3.3 样品的制备第41-48页
  3.4 实验测试与结果分析第48-54页
    3.4.1 TEM样品的制作与TEM测试第48-50页
    3.4.2 2 um小孔中GaN晶体的形貌第50-51页
    3.4.3 200 nm小孔中GaN晶体的形貌第51页
    3.4.4 50 nm及20 nm小孔中GaN晶体的形貌第51-53页
    3.4.5 长槽开口中GaN晶体的形貌第53-54页
  3.5 本章小结第54-56页
第四章 小孔上的横向GaN外延生长第56-75页
  4.1 掩膜层上的横向GaN外延生长实验的设计第56-62页
    4.1.1 小孔外GaN的横向外延生长及合并实验的设计第56-57页
    4.1.2 顶部限制层构成的横向空腔实验的设计第57-62页
  4.2 顶部限制层构成的横向空腔的制备第62-68页
  4.3 实验测试与结果分析第68-73页
    4.3.1 小孔外GaN的横向外延生长及合并实验第68-70页
    4.3.2 第一次顶部限制层构成的横向空腔实验第70-72页
    4.3.3 第二次顶部限制层构成的横向空腔实验第72-73页
  4.4 本章小结第73-75页
第五章 总结与展望第75-77页
参考文献第77-81页
攻读硕士期间获得的成果第81页

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