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Topmetal-Ⅱ~-数字读出测试方法的研究

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Topmetal-Ⅱ~-数字读出测试方法的研究
论文目录
 
摘要第1-6页
Abstract第6-11页
第一章 绪论第11-17页
  1.1 研究背景及意义第11-14页
  1.2 芯片测试方法研究现状第14-16页
  1.3 论文主要研究内容及结构第16-17页
第二章 Topmetal-Ⅱ~-的结构及原理第17-27页
  2.1 Topmetal-Ⅱ~-整体结构框图第17-18页
  2.2 Topmetal-Ⅱ~-模拟读出第18-20页
    2.2.1 模拟读出结构第18-19页
    2.2.2 模拟读出原理第19-20页
    2.2.3 模拟读出测试第20页
  2.3 Topmetal-Ⅱ~-数字读出第20-26页
    2.3.1 数字读出通道结构第20-21页
    2.3.2 数字读出CSA工作状态第21页
    2.3.3 信号量化第21-22页
    2.3.4 数字读出时序第22-24页
    2.3.5 列优先读出逻辑第24-26页
  2.4 Topmetal-Ⅱ~-数字读出测试步骤第26-27页
第三章 数字读出硬件及固件设计第27-37页
  3.1 数字读出测试平台整体框图第27页
  3.2 邦定板设计第27-28页
  3.3 测试底板设计第28-30页
  3.4 FPGA开发板资源介绍第30-31页
  3.5 FPGA固件设计第31-37页
    3.5.1 FPGA顶层结构的设计第32-33页
    3.5.2 全局时钟划分与处理第33-34页
    3.5.3 高速数据缓存第34页
    3.5.4 模拟读出固件设计及仿真第34-35页
    3.5.5 数字读出固件设计第35页
    3.5.6 1G以太网通信技术的实现第35-37页
第四章 上位机软件设计第37-44页
  4.1 PC端上位机软件概述第37页
  4.2 套接字程序设计第37-39页
    4.2.1 套接字介绍第37-38页
    4.2.2 流套接字通信函数第38-39页
  4.3 脚本控制及数据处理程序设计第39-40页
  4.4 绘图程序设计第40-41页
  4.5 激励脉冲源程序设计第41-44页
    4.5.1 程控仪器介绍第42页
    4.5.2 仪器发现与波形生成第42-44页
第五章 像素阵列一致性补偿第44-54页
  5.1 像素阵列一致性分析及补偿方法第44页
  5.2 像素阵列一致性测试条件的设置第44页
  5.3 像素的S曲线第44-46页
  5.4 S曲线中各特征点的定义第46-47页
  5.5 像素Baseline的分布第47-49页
    5.5.1 像素Baseline median的分布第47-48页
    5.5.2 像素Baseline width的分布第48-49页
  5.6 像素Transition的分布第49-51页
    5.6.1 像素Transition median的分布第49-50页
    5.6.2 像素Transition width的分布第50-51页
  5.7 4-Bit DAC的最佳步长和VR8B的最佳值第51-52页
  5.8 4-Bit DAC配置数据第52-53页
  5.9 Threshold的分布第53-54页
第六章 像素阵列性能测试第54-62页
  6.1 配置4-Bit DAC第54页
  6.2 像素的S曲线第54-55页
  6.3 像素Baseline的分布第55-58页
    6.3.1 像素Baseline median的分布第55-56页
    6.3.2 像素Baseline width的分布第56-58页
  6.4 像素Transition的分布第58-60页
    6.4.1 像素Transition median的分布第58-59页
    6.4.2 像素Transition width的分布第59-60页
  6.5 光照测试第60-61页
  6.6 像素阵列性能测试结果分析第61-62页
第七章 总结与展望第62-63页
  7.1 总结第62页
  7.2 展望第62-63页
参考文献第63-66页
攻读学位期间科研成果第66-67页
致谢第67页

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