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基于谱变换的伪随机测试方法研究
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基于谱变换的伪随机测试方法研究
论文目录
摘要
第1-6页
Abstract
第6-12页
第1章 绪论
第12-18页
1.1 研究背景及意义
第12-14页
1.2 国内外研究现状
第14-16页
1.3 本文主要工作及组织结构
第16-18页
第2章 集成电路测试概念和内建自测试
第18-31页
2.1 集成电路测试概念
第18-22页
2.1.1 测试流程
第18-19页
2.1.2 故障模型
第19页
2.1.3 测试向量生成
第19-21页
2.1.4 故障模拟
第21-22页
2.2 内建自测试概述
第22-24页
2.3 内建自测试测试产生方法
第24-28页
2.3.1 穷举和伪穷举测试
第24-25页
2.3.2 伪随机和加权伪随机测试
第25-27页
2.3.3 存储和确定性产生测试方法
第27-28页
2.4 基于拆分测试集的新技术
第28-30页
2.5 本章小结
第30-31页
第3章 基于分组的谱变换伪随机测试方法
第31-44页
3.1 哈达玛变换
第31-33页
3.2 PRMOPT方法概述
第33-37页
3.2.1 测试集分组预处理
第33-35页
3.2.2 对分组测试集做变换
第35-36页
3.2.3 获取残分量及权值
第36页
3.2.4 随机扰动
第36-37页
3.3 硬件设计
第37-39页
3.4 实验结果
第39-42页
3.5 本章小结
第42-44页
第4章 部分谱变换的受控随机测试方法
第44-56页
4.1 受控LFSR随机产生
第44-45页
4.2 实验方法描述以及过程
第45-52页
4.2.1 测试产生
第45页
4.2.2 部分哈达玛变换
第45-47页
4.2.3 可控LFSR部分伪随机产生
第47-52页
4.3 硬件设计
第52-53页
4.4 实验结果
第53-55页
4.5 本章小结
第55-56页
结论
第56-58页
参考文献
第58-63页
致谢
第63页
本篇论文共
63
页,
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。
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