医用钛合金表面阳极氧化膜的制备工艺及性能研究 |
论文目录 | | | 独创性声明 | 第1
页 | | 学位论文版权使用授权书 | 第2-3
页 | | 摘要 | 第3-4
页 | | ABSTRACT | 第4-9
页 | | 第一章 绪论 | 第9-20
页 | | 1．1 引言 | 第9
页 | | 1．2 医用钛合金的发展及应用现状和存在的问题 | 第9-11
页 | | 1．2．1 医用钛合金的发展及应用现状 | 第9-10
页 | | 1．2．2 医用钛合金现存的问题 | 第10-11
页 | | 1．3 钛合金表面改性的意义及其方法 | 第11-13
页 | | 1．4 钛及其合金表面氧化着色技术 | 第13-16
页 | | 1．4．1 气氛加热氧化法 | 第13
页 | | 1．4．2 化学氧化法 | 第13-14
页 | | 1．4．3 阳极氧化法 | 第14-15
页 | | 1．4．4 特殊的氧化着色方法 | 第15-16
页 | | 1．5 钛合金表面氧化着色原理 | 第16-17
页 | | 1．6 钛阳极氧化膜的结构与成分及其性能 | 第17-18
页 | | 1．7 课题背景及论文主要内容 | 第18-20
页 | | 第二章 钛合金阳极氧化膜制备工艺的影响因素 | 第20-35
页 | | 2．1 引言 | 第20
页 | | 2．2 试验部分 | 第20-23
页 | | 2．2．1 实验材料 | 第20-21
页 | | 2．2．2 实验方法 | 第21-23
页 | | 2．2．2．1 表面预处理 | 第21-22
页 | | 2．2．2．2 电解液的制备 | 第22
页 | | 2．2．2．3 阳极氧化装置 | 第22
页 | | 2．2．2．4 表面阳极氧化处理 | 第22-23
页 | | 2．2．2．5 氧化膜的封孔处理 | 第23
页 | | 2．3 试样表面测试与表征 | 第23-24
页 | | 2．3．1 扫描电镜(SEM)观察 | 第23
页 | | 2．3．2 X 射线光电子能谱(XPS)分析 | 第23
页 | | 2．3．3 表面粗糙度测试 | 第23-24
页 | | 2．4 结果与讨论 | 第24-30
页 | | 2．4．1 表面预处理对成膜的影响 | 第24-25
页 | | 2．4．2 电解电压与膜层颜色的关系 | 第25-26
页 | | 2．4．3 电解液对膜层颜色的影响 | 第26-28
页 | | 2．4．3．1 电解液成分的影响 | 第26-27
页 | | 2．4．3．2 电解液浓度的影响 | 第27
页 | | 2．4．3．3 电解液温度的影响 | 第27-28
页 | | 2．4．4 阳极氧化时间对成膜的影响 | 第28-29
页 | | 2．4．5 封孔处理 | 第29-30
页 | | 2．5 恒压阳极氧化的电流-时间曲线 | 第30-32
页 | | 2．6 膜层生长规律的讨论 | 第32-33
页 | | 2．7 实际生产应用 | 第33-34
页 | | 2．8 本章小结 | 第34-35
页 | | 第三章 钛合金阳极氧化膜性能和成分的测试 | 第35-50
页 | | 3．1 引言 | 第35
页 | | 3．2 阳极氧化膜耐蚀性测试 | 第35-40
页 | | 3．2．1 不同电解液对耐蚀性的影响 | 第36-37
页 | | 3．2．2 温度对耐蚀性的影响 | 第37-39
页 | | 3．2．3 阳极化时间对耐蚀性的影响 | 第39-40
页 | | 3．3 阳极氧化膜的 XPS 测试 | 第40-47
页 | | 3．3．1 阳极氧化前后合金表面氧化膜的XPS分析 | 第40-43
页 | | 3．3．2 阳极氧化前后XPS溅射结果分析 | 第43-47
页 | | 3．4 显微硬度的测试 | 第47-48
页 | | 3．4．1 硬度测试结果 | 第48
页 | | 3．5 本章小结 | 第48-50
页 | | 第四章 阳极氧化膜色彩的数据化判别 | 第50-63
页 | | 4．1 引言 | 第50-51
页 | | 4．2 颜色的基础知识 | 第51-52
页 | | 4．3 颜色模型 | 第52-54
页 | | 4．4 计算机颜色识别原理 | 第54-56
页 | | 4．5 计算机颜色识别的过程 | 第56-62
页 | | 4．5．1 彩色图像的输入 | 第56-58
页 | | 4．5．2 试样RGB 值识别程序分析 | 第58-60
页 | | 4．5．3 颜色识别结果 | 第60-62
页 | | 4．6 本章小结 | 第62-63
页 | | 第五章 全文总结 | 第63-64
页 | | 参考文献 | 第64-70
页 | | 发表论文和参加科研情况说明 | 第70-71
页 | | 附录 | 第71-80
页 | | 致谢 | 第80
页 |
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