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IGBT基于故障物理的失效分析及电子器件加速寿命模型的研究
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IGBT基于故障物理的失效分析及电子器件加速寿命模型的研究
论文目录
 
摘要第1-6页
abstract第6-10页
第一章 绪论第10-19页
　　1.1 选题背景及意义第10-13页
　　　　1.1.1 电子器件可靠性需求第10-11页
　　　　1.1.2 功率电子器件发展现状第11-13页
　　1.2 研究现状第13-15页
　　　　1.2.1 IGBT失效分析研究现状第13-14页
　　　　1.2.2 IGBT故障物理模型研究现状第14-15页
　　　　1.2.3 IGBT加速寿命试验研究现状第15页
　　1.3 本文主要内容第15-17页
　　1.4 论文结构第17-19页
第二章 IGBT器件的失效机理第19-29页
　　2.1 引言第19页
　　2.2 IGBT结构简介及其工作原理第19-22页
　　　　2.2.1 IGBT电气物理结构第19-20页
　　　　2.2.2 IGBT机械封装结构第20-22页
　　2.3 IGBT的失效机理第22-28页
　　　　2.3.1 IGBT电气物理失效机理第24-26页
　　　　2.3.2 IGBT失效机理第26-28页
　　2.4 本章小结第28-29页
第三章 IGBT器件的失效分析第29-45页
　　3.1 引言第29-30页
　　3.2 IGBT的动态电气模型第30-37页
　　　　3.2.1 引言第30页
　　　　3.2.2 等效电路建立第30-32页
　　　　3.2.3 模型参数的提取第32-35页
　　　　3.2.4 仿真与验证第35-37页
　　3.3 COMSOL分析第37-44页
　　　　3.3.1 COMSOL仿真软件简介第37-38页
　　　　3.3.2 IGBT电-热-力耦合分析第38-41页
　　　　3.3.3 IGBT电-热-力耦合模型第41-43页
　　　　3.3.4 仿真结果分析第43-44页
　　3.4 本章小结第44-45页
第四章 IGBT概率失效物理模型的建立第45-58页
　　4.1 引言第45页
　　4.2 概率失效物理模型内涵分析第45-48页
　　4.3 IGBT键合处焊点的疲劳寿命预测模型第48-50页
　　4.4 IGBT概率失效物理模型建模技术框架第50-53页
　　4.5 融合试验数据的贝叶斯更新方法第53-56页
　　　　4.5.1 贝叶斯统计概述第53-54页
　　　　4.5.2 贝叶斯更新第54-56页
　　4.6 本章小结第56-58页
第五章 电子器件加速寿命模型的研究第58-73页
　　5.1 引言第58页
　　5.2 加速寿命试验模型研究第58-65页
　　　　5.2.1 加速寿命实验的概念第58-59页
　　　　5.2.2 加速寿命试验常见类型第59-60页
　　　　5.2.3 IGBT加速寿命试验模型建立第60-65页
　　5.3 湿热加速寿命模型研究第65-72页
　　　　5.3.1 电子器件的实际贮存环境第65-66页
　　　　5.3.2 湿热老化模型的建立第66-68页
　　　　5.3.3 对数正态分布下的湿热加速应力模型第68-72页
　　5.4 本章小结第72-73页
第六章 总结与展望第73-75页
　　6.1 全文总结第73-74页
　　6.2 后续工作展望第74-75页
致谢第75-76页
参考文献第76-82页
攻读硕士学位期间参加的科研项目与取得的成果第82页

本篇论文共82页，点击这进入下载页面。
 
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